金属厚測定

薄い金属膜はさまざまな産業の多種多様な用途で取り入れられています。フィルメトリクスのシステムは金属膜の厚さ、屈折率、そして消衰係数 を50nmまで計測することが可能です。しかもそれは数秒で測定ボタン一つで得られます。

金属薄膜アプリケーションへの薄膜測定システムのご活用については お問い合わせフォームにて当社技術者へご相談下さい。

フィルメトリクスは無料お試し測定を行っています。 - 結果は大抵1～２日です。