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Si, シリコン屈折率

Silicon

632.8nmでのSiの典型的なサンプルの屈折率消衰係数は3.882と0.019 です。以下は屈折率と減衰係数の完全なファイルです。もしファイルのダウンロードがご利用いただけない場合、“リクエストする”をクリックし当社独自のファイルをリクエストしていただけます。

無制限使用のためのデータファイル
個人使用のためのデータファイル
フィルメトリクス社のシステムと共に使用するための暗号化されたファイル
波長 (nm)

屈折率参照 - Handbook of Optical Constants of Solids, Edward D. Palik. Academic Press, Boston, 1985

2 D. E. Aspnes and J. B. Theeten (1980) "Spectroscopic Analysis of the Interface Between Si and Its Thermally Grown Oxide" J. Electrochem. Soc., Volume 127, Issue 6, pp. 1359-1365 doi :10.1149/1.2129899
Wikipedia: Silicon

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