F20シリーズ

F20膜厚測定システムは、全世界で数千台の販売実績を誇るベストセラー商品です。 簡単に膜厚や屈折率の測定ができ、半導体、フラットパネル、自動車部品、光学部品など様々な用途でご利用いただけます。 基本的なコンピューターの知識さえあれば誰でも簡単に測定することができます。

膜厚など膜の特性に応じて、最適な機種をお選びいただけます。 短い波長の製品群(F20-UV, F20)は薄い膜の測定に、長い波長の製品群(F20-NIR, F20-EXR)は厚膜もしく粗さがあるサンプルの測定に適しています。

付属品:

モデル仕様

モデル 膜厚測定範囲* 波長範囲
F20 15nm - 70µm 380-1050nm
F20-EXR 15nm - 250µm 380-1700nm
F20-NIR 100nm - 250µm 950-1700nm
F20-UV 1nm - 40µm 190-1100nm
F20-UVX 1nm - 250µm 190-1700nm
F20-XT 0.2µm - 450µm 1440-1690nm
F3-sXシリーズ 10µm - 3mm 960-1580nm
F70シリーズ 15µm - 15mm 380-1050nm
*膜材料その他の条件により異なります
膜厚測定範囲*

特典:

  • 130種類以上のマテリアルライブラリ
  • アプリケーションエンジニアのサポート
  • インターネットサポート
  • ハードウェアのアップグレードプログラム