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F40-UV

最小4nmまでの膜厚測定

F40-UVをお使いいただくことにより、スポットサイズが最小7ミクロン上の最小4nmまでの膜厚の測定が可能です。

F40は紫外線顕微鏡とカラービデオカメラを完全装備し、薄膜の正確なスポットのモニターが可能です。膜厚と屈折率は瞬時に測定が可能です。他の製品群と同様、F40-UVは WindowsコンピューターとUSBで接続し、わずか数分で設置が完了します。

モデル 膜厚測定範囲* 波長範囲
F40-UV 4nm-40µm 200-1100nm

付属品:

追加特典:

  • 130種類の一覧表
  • アプリケーションエンジニアが月～金まで緊急サポートにも応じます
  • オンラインサポートインターネット接続が必要です
  • ハードウェアのアップグレード
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