F70シリーズ

F70は膜厚13mmまで測定が可能な多目的膜厚測定システムです。よく使われるアプリケーションはガラス、プラスチックシート、レンズ、容器、半導体ウエハーです。

F70は透明材質を測定するためにデザインされており、F70-NIRは半導体材料の測定用にデザインされています。膜厚範囲はレンズとソフトウエアオプションにより決定されます(詳細はカタログをご覧下さい)。

膜厚は瞬時に測定可能です。当社のその他の製品群と同様、F70はお使いのWindows™コンピューターとUSBで接続可能なため設定時間は数分です。