F70シリーズ

F70は、最大厚み13mmまでのガラス、プラスチックシート、レンズ、容器、半導体ウエハーなどの様々な材料測定に多目的最適化システムです。

F70とF70-NIRはそれぞれ、透明材質や半導体材料を測定するため、設計された機種です。各種のレンズ オプションとソフト アップグレードの組み合わせにより、対応厚み範囲も異なります。(詳細についてカタログをご参照下さい)

高速な膜厚測定が可能で、当社の他の製品と同じ、パソコンにUSB接続するだけでセットアップは数分で完了。

付属品:

モデル仕様

*範囲はオプションと測定される材質により異なります。
モデル 測定材料 膜厚測定範囲* 波長範囲*
F70 透明 15µm-13mm 380-1050nm
F70-NIR 半導体 100µm-2mm 950-1700nm

特典:

主なオプション