F40シリーズ

お使いの顕微鏡を膜厚測定システムに

F40シリーズは、半導体ICなど最小1ミクロンの微小スポットを測定することが出来ます。 顕微鏡のCマウントアダプターに取り付けることで、お手持ちの顕微鏡で膜厚を測定することが出来ます。

観察用ビデオカメラを内蔵しており、パソコンの画面上で測定箇所を確認し膜厚と屈折率の測定が可能です。

付属品:

モデル仕様

*膜材料その他の条件により異なります
モデル 膜厚測定範囲* 波長範囲
F40 20nm-40µm 400-850nm
F40-EXR 20nm-120µm 400-1700nm
F40-NIR 40nm-120µm 950-1700nm
F40-UV 4nm-40µm 190-1100nm
F40-UVX 4nm-120µm 190-1700nm
膜厚測定範囲*

特典:

  • 130種類以上のマテリアルライブラリ
  • アプリケーションエンジニアのサポート
  • インターネットサポート
  • ハードウェアのアップグレードプログラム