F40-UV

最小4nmまでの膜厚測定

F40-UVをお使いいただくことにより、スポットサイズが最小7ミクロン上の最小4nmまでの膜厚の測定が可能です。

F40は紫外線顕微鏡とカラービデオカメラを完全装備し、薄膜の正確なスポットのモニターが可能です。膜厚と屈折率は瞬時に測定が可能です。他の製品群と同様、F40-UVは WindowsコンピューターとUSBで接続し、わずか数分で設置が完了します。

付属品:

モデル仕様

モデル 膜厚測定範囲* 波長範囲
F40-UV 4nm-40µm 190-1100nm
F40-UVX 4nm-40µm 190-1700nm

特典:

  • 130種類以上のマテリアルライブラリ
  • アプリケーションエンジニアのサポート
  • インターネットサポート
  • ハードウェアのアップグレードプログラム