ソーラーアプリケーション
薄膜太陽光発電
薄膜太陽光発電（Thin-film photovoltaics、TFPV)はシリコンウエハーで出来た製品に代わる安価な方法として開発されました。 TFPVの3つの主なカテゴリーはそれらのアクティブ層の材質にちなみ以下のように名付けられています。 薄シリコン、II-VI（主にCdTe)、CIGC（二硫化銅・インジウム・ガリウム、セレン化物（copper indium gallium selenide）。 これらの層が、アクティブ層として、基板（通常ガラスあるいは金属)上の透明導電性酸化物上に積層されます。
アクティブ層の測定
アクティブ層の膜厚と組成を適切にする事は重要です。 薄すぎると効率と耐久性が落ち、厚すぎるとコストが上がります。 組成が適切でないと効率と製造上の生産性が大きく落ちます。
フィルメトリクスのF20は数十社のTFPVメーカーで使用され、3つの全てのタイプの層の膜厚と光学定数の測定に活躍しています。 TCO上のアクティブ層の測定において、フィルメトリクス社は社内製、またはガラスメーカー製に関わらず、単一及び複層TCOの特性評価に豊富な経験を有しています。
その他のプロセスフィルム
アクティブ層とTCOスタックの他にもTFPVの製造に良く使用される薄膜があります。 その例としては、セルと電極を形作るポリイミド、レジストや、反射防止コーティングがあります。 どの場合でも、フィルメトリクスでは 卓上タイプ、マッピング、インラインタイプを用意してご用命にお応えしています。
貴社ソーラーアプリケーションへのご活用はお問い合わせフォームで当社技術者へお問い合わせ下さい。 フィルメトリクスでは無料サンプルの測定を行っています。 - 結果は通常1～2日です。
測定例
多層膜を素早く正確に測定する事は、薄膜太陽電池の開発と製造に非常に重要です。このサンプルでは、薄膜太陽光発電機器の薄膜バッファ層(CdS)と吸収層(CdTe)の両方を測定しています。F20-NIRと平行ビームステージを用い、反射スペクトルを測定、それによりTECガラス上のCdTeベースの太陽電池のCdTeとCdS層の両方の膜厚の測定が可能となりました。測定セットアップ:
F20-NIRと平行ビームファイバー
使用されたレシピ:
測定結果:
